Параметрический анализатор Keithley 4200-SCS

Производитель: Keithley Instruments

Заказать

Сверхбыстрые измерения ВАХ охватывают широкий диапазон применений, среди которых: 

  • общее тестирование устройств в импульсном режиме: МОП транзисторы, резисторы, диоды, конденсаторы и т.п.;
  • измерение параметров КМОП: подкачка заряда, захват заряда, саморазогрев, надежность;
  • тестирование энергонезависимой памяти: флэш, PCRAM;
  • композитные полупроводниковые приборы и материалы: GaAs, GaN, лазерные диоды, измерение теплового импеданса;
  • нанотехнологии и микроэлектромеханические устройства: полевые транзисторы на углеродных нанотрубках, датчики;
  • солнечные батареи;
  • тестирование других устройств: дисплеи на органических светодиодах, устройства со сверхпроводниками; и многое другое.

Система Keithley 4200-SCS – универсальная система для измерений I-V (вольт-амперных характеристик –ВАХ) и С-V (вольт-фарадных характеристик) на постоянном токе и в импульсном режиме для полупроводниковых приборов и тестовых структур на пластине в полупроводниковом производстве.

Система имеет модульную многоканальную архитектуру и настраиваемую конфигурацию, поддерживая до 9 измерительных и дополнительных модулей.

Обеспечивает:

  • Измерение ВАХ в диапазоне токов 0,1 фА до 1 А и напряжения от 1 мкВ до 210 В 
  • Измерение C-V в диапазоне до 400 В с разрешением 5 мВ, в частотном диапазоне от 1 кГц до 10 МГц
  • Ультрабыстрое и импульсное тестирование с временным разрешением 10 нс

Основные особенности: 

  • Встроенный системный контроллер с процессором 2 Duo-Pentium и поддержкой монитора высокого разрешения
  • Шасси поддерживает до 9 измерительных модулей одновременно 
  • Опционально предусилитель малых токов для модулей средней и высокой мощности 
  • Измерение вольт-фарадных (C-V) характеристик с дифференциальным смещением ±60 В и в диапазоне частот от 1 кГц до 10 МГц, а также в квазистатическом режиме  и ультраникочастотную CV-метрию  
  • Опциональное измерение высоковольтных Вольт-фарадных (С-V) характеристик в диапазоне дифференциального напряжения до 400 В 
  • Интерактивная интуитивно понятная пользовательская среда тестирования (КITE) позволяет быстро решать задачи по управлению процессом измерения и тестирования 
  • Библиотека до 450 стандартных тестов  

Рабочая станция на базе Windows XP 

  • Процессор Pentium Core 2 Duo 6400 
  • Память — 2 Гб 
  • Жесткий диск -500 Гб SATA HDD 
  • DVD/CD-RW
  • Встроенный 12-дюймовый дисплей с выходом на внешний SVGA Монитор 
  • Порты LAN, GPIB, USB, RS-232, Parallel Printer Port

Система измернеия параметров полупроводников Keithley 4200 — это комплекс аппаратных и программных средств

Диапазон тока Макс.
напряж.
Разрешение (измерение) Точность
измерения
±(% от шкалы + А)
Разрешение
(генерация)
Точность
генерации
±(% от шкалы + А)
4210-SMU 1 А 21 В 1 мкА 0,100% + 200 мкА 50 мкА 0,100% + 300 мкА
100 мА 210 В 100 нА 0,045% + 3 мкА 5 мкА 0,050% + 15 мкА
4200-SMU
и
4210-SMU
100 мА 21 В 100 нА 0,045% + 3 мкА 5 мкА 0,050% + 15 мкА
10 мА 210 В 10 нА 0,037% + 300 нА 500 нА 0,042% + 1,5 мкА
1 мА 210 В 1 нА 0,035% + 30 нА 50 нА 0,040% + 150 нА
100 мкА 210 В 100 пА 0,033% + 3 нА 5 нА 0,038% + 15 нА
10 мкА 210 В 10 пА 0,050% + 600 пА 500 пА 0,060% + 1,5 нА
1 мкА 210 В 1 пА 0,050% + 100 пА 50 пА 0,060% + 200 пА
100 нА 210 В 100 фА 0,050% + 30 пА 5 пА 0,050% + 30 пА
4200-SMU
и
4210-SMU
с опцией
4200-PA
10 нА 210 В 10 фА 0,050% + 1 пА 500 фА 0,060% + 3 пА
1 нА 210 В 3 фА 0,050% + 100 фА 50 фА 0,060% + 300 фА
100 пA 210 В 1 фА 0,100% + 30 фА 15 фА 0,100% + 80 фА
10 пА 210 В 0,3 фА 0,050% + 15 фА 5 фА 0,500% + 50 фА
1 пА 210 В 100 нА 1,000% + 30 фА 1,5 фА 1,000% + 40 фА
Диапазон
напряжения
Максимальный ток Разрешение
измерения
Точность измерения
±(% от шкалы + А)
Разрешение
(генерация)
Точность
генерации
±(% от шкалы + А)
4200-SMU 4210-SMU
200 В 10,5 мА 105 мА 200 мкВ 0,015% + 3 мВ 5 мВ 0,02% + 15 мВ
20 В 105 мА 1,05 мА 20 мкВ 0,01% + 1 мВ 500 мкВ 0,02% + 1,5 мВ
2 В 105 мА 1,05 мА 2 мкВ 0,012% + 150 мкВ 50 мкВ 0,02% + 300 мкВ
200 мВ 105 мА 1,05 мА 1 мкВ 0,012% + 100 мкВ 5 мкВ 0,02% + 150 мкВ
Амплитудные хараткеристики генератора 4225-PMU и 4220-PGU
Параметр Импеданс Диапазон 10 В Диапазон 40 В
Амплитуда на выходе 50 Ом — 1 МОм -10 В…+ 10 В -40 В…+40 В
50 Ом —  50 Ом -5 В…+ 5 В -20 В…+ 20 В
Точность ±(0,5% + 10 мВ) ±(0,2% + 20 мВ)
Разрешение 50 Ом — 1 МОм < 250 мкВ < 750 мкВ
50 Ом —  50 Ом < 0,5 мВ < 1,5 мВ
Уровень шума, скз (типичное) ±(0,3% + 1 мВ) ±(0,1% + 5 мВ)
Выходной импеданс 50 Ом 50 Ом
Временные и частотные хараткеристики генератора 4225-PMU и 4220-PGU
Параметр Диапазон 10 В (только генерация) Диапазон 10 В (с измерением) Диапазон 40 В (только генерация) Диапазон 40 В (с измерением)
Частотный диапазон 1 Гц…50 МГц 1 Гц…8,3 МГц 1 Гц…10 МГц 1 Гц…3,5 МГц
Временное разрешение 10 нс 10 нс 10 нс 10 нс
Джиттер, скз (типичное) 0,01% + 200 пс 0,01% + 200 пс 0,01% + 200 пс 0,01% + 200 пс
Период 20 нс…1с 120 нс…1с 100 нс…1с 280 нс…1с
Длительность импульса 10 нс…(период — 10 нс) 60 нс…(период — 10 нс) 50 нс…(период — 10 нс) 140 нс…(период — 10 нс)
Программируемое время перехода 10 нс…33 мс 20 нс…33 мс 30 нс…33 мс 100 нс…33 мс
Измерение тока (4225-PMU) 
Параметр Диапазон 10 В Диапазон 40 В 
Диапазон измерения тока 10 мА 200 мА 100 мкА 10 мА 800 мА
Точность ±(0,25% + 100 мкА) ±(0,25% + 250 мкА) ±(0,25% + 1 мкА) ±(0,5% + 100 мкА) ±(0,25% + 3 мА)
Шум 15 мкА 50 мкА 75 нА 5 мкА 200 мкА
Измерение тока (4225-RPM)
Параметр Диапазон 10 В
Диапазон измерения тока 100 нА 1 мкА 10 мкА 100 мкА 1 мА 10 мА
Точность ±(0,5% + 1 нА) ±(0,5% + 1 нА) ±(0,5% + 30 нА) ±(0,5% + 100 нА) ±(0,5% + 1 мкА) ±(0,5% + 10 мкА)
Шум 200 нА 2 нА 5 нА 50 нА 300 нА 1,5 мкА
Измерение напряжения (4225-PMU и 4225-RPM)
  ±10 В 
4225-PMU
±40 В 
4225-PMU
±10 В 
4225-RPM
Точность ±(0,25% + 10 мВ) ±(0,25% + 40 мВ) ±(0,25% + 10 мВ)

Другие товары

Популярное

Производители

Решение ключевых задач при создании предприятия
по производству радиоэлектронной аппаратуры

Контакты

Оставьте заявку и мы обязательно с Вами свяжемся

143005, МО, Одинцово,
ул. Трехгорная, д. 4

8(495)580-85-38
info@radiotest.ru