Параметрический анализатор Keithley 4200-SCS

Сверхбыстрые измерения ВАХ охватывают широкий диапазон применений, среди которых: 

• общее тестирование устройств в импульсном режиме: МОП транзисторы, резисторы, диоды, конденсаторы и т.п.;
• измерение параметров КМОП: подкачка заряда, захват заряда, саморазогрев, надежность;
• тестирование энергонезависимой памяти: флэш, PCRAM;
• композитные полупроводниковые приборы и материалы: GaAs, GaN, лазерные диоды, измерение теплового импеданса;
• нанотехнологии и микроэлектромеханические устройства: полевые транзисторы на углеродных нанотрубках, датчики;
• солнечные батареи;
• тестирование других устройств: дисплеи на органических светодиодах, устройства со сверхпроводниками; и многое другое.

Система Keithley 4200-SCS – универсальная система для измерений I-V (вольт-амперных характеристик –ВАХ) и С-V (вольт-фарадных характеристик) на постоянном токе и в импульсном режиме для полупроводниковых приборов и тестовых структур на пластине в полупроводниковом производстве.

Система имеет модульную многоканальную архитектуру и настраиваемую конфигурацию, поддерживая до 9 измерительных и дополнительных модулей.

Обеспечивает:

• Измерение ВАХ в диапазоне токов 0,1 фА до 1 А и напряжения от 1 мкВ до 210 В 
• Измерение C-V в диапазоне до 400 В с разрешением 5 мВ, в частотном диапазоне от 1 кГц до 10 МГц
• Ультрабыстрое и импульсное тестирование с временным разрешением 10 нс

Основные особенности: 

• Встроенный системный контроллер с процессором 2 Duo-Pentium и поддержкой монитора высокого разрешения
• Шасси поддерживает до 9 измерительных модулей одновременно 
• Опционально предусилитель малых токов для модулей средней и высокой мощности 
• Измерение вольт-фарадных (C-V) характеристик с дифференциальным смещением ±60 В и в диапазоне частот от 1 кГц до 10 МГц, а также в квазистатическом режиме  и ультраникочастотную CV-метрию  
• Опциональное измерение высоковольтных Вольт-фарадных (С-V) характеристик в диапазоне дифференциального напряжения до 400 В 
• Интерактивная интуитивно понятная пользовательская среда тестирования (КITE) позволяет быстро решать задачи по управлению процессом измерения и тестирования 
• Библиотека до 450 стандартных тестов  

Рабочая станция на базе Windows XP 

• Процессор Pentium Core 2 Duo 6400 
• Память — 2 Гб 
• Жесткий диск -500 Гб SATA HDD 
• DVD/CD-RW
• Встроенный 12-дюймовый дисплей с выходом на внешний SVGA Монитор 
• Порты LAN, GPIB, USB, RS-232, Parallel Printer Port

Система измернеия параметров полупроводников Keithley 4200 — это комплекс аппаратных и программных средств